JIS C5027-1975 电子元器件贮存(低温)试验方法
作者:标准资料网 时间:2024-05-07 17:22:55 浏览:8525
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【英文标准名称】:Storage(lowtemperature)testingmethodforelectroniccomponents
【原文标准名称】:电子元器件贮存(低温)试验方法
【标准号】:JISC5027-1975
【标准状态】:作废
【国别】:日本
【发布日期】:
【实施或试行日期】:
【发布单位】:日本工业标准调查会(JISC)
【起草单位】:Electronics
【标准类型】:()
【标准水平】:()
【中文主题词】:通信设备;试验;低温;储存;电子设备及元件;电气元件
【英文主题词】:communicationequipment;testing;lowtemperatures;storage
【摘要】:
【中国标准分类号】:L10
【国际标准分类号】:
【页数】:3P;A4
【正文语种】:日语
【原文标准名称】:电子元器件贮存(低温)试验方法
【标准号】:JISC5027-1975
【标准状态】:作废
【国别】:日本
【发布日期】:
【实施或试行日期】:
【发布单位】:日本工业标准调查会(JISC)
【起草单位】:Electronics
【标准类型】:()
【标准水平】:()
【中文主题词】:通信设备;试验;低温;储存;电子设备及元件;电气元件
【英文主题词】:communicationequipment;testing;lowtemperatures;storage
【摘要】:
【中国标准分类号】:L10
【国际标准分类号】:
【页数】:3P;A4
【正文语种】:日语
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